微差压表的测量原理，本质上是将无形的压力差转化为可观测的机械或电信号。目前主流技术主要基于两大经典物理原理：

 

　　一是机械式（膜片/波纹管式）原理。其核心是一个高灵敏度弹性传感元件（如金属或硅质膜片）。当两侧存在压力差（ΔP=P1-P2）时，膜片产生微米级形变。这种形变通过精巧的机械连杆机构放大，最终驱动指针在刻度盘上精确偏转，或通过光电编码转换为数字信号。其过程宛如用极精密的弹簧秤去称量“空气的重量”。

 

　　二是压阻式（MEMS传感器）原理，代表了当代高精度测量的主流。它在硅芯片上集成惠斯通电桥与压敏电阻。当压力作用于芯片，硅膜片形变导致压敏电阻值变化，打破电桥平衡，输出与压力差严格成比例的电压信号。该信号经放大器与模数转换器处理，即可直观显示。其灵敏度高，可探测到相当于数页纸张重量的压力变化。

 

　　然而，微差压表要达成稳定可靠的精确测量，绝非易事。其精度是一个系统工程，受制于一个相互关联的“影响因素矩阵”：

 

　　首先，核心传感元件的本质特性是根基。材料的长期稳定性（如抗疲劳性、蠕变性）、线性度、迟滞性（压力增减时读数的一致性）以及温漂系数（温度变化引起的误差），直接决定了测量的本底精度。例如，温度波动可能导致膜片弹性模量变化或MEMS芯片内阻漂移，必须通过材料优选与温度补偿电路进行对冲。

 

　　其次，环境与工况是严峻的外部考验。介质的性质至关重要：腐蚀性气体可能侵蚀膜片，高湿度可能导致冷凝阻塞取压管，粉尘会附着磨损。流体状态的影响也不容忽视：管道中的湍流、脉动压力会形成高频噪声，严重干扰真实差压信号的提取，必须通过阻尼器或滤波算法进行平抑。此外，仪表的安装姿态（是否垂直）、以及取压口与连接导管的布局是否合理（如避免积液），都可能导致难以察觉的系统误差。

 

　　最后，长期使用的动态因素构成另一挑战。传感元件的自然老化、机械部件的轻微磨损、取压管路的可能堵塞或泄漏，都会导致测量值悄然“漂移”。因此，定期的零点校准与满量程校验，如同为这块“压力罗盘”重置基准，是维持其生命周期内精度的不二法门。